Добавлено: 26.02.2017, 09:40
Уважаемый Демьянов троллит научное сообщество своими экспериментами.
Обустроив края щелей полупроводниковыми датчиками, я зарегистрировал акт прохождения электрона через щель, измеряя одновременно более слабый сигнал на другой щели. Техника такого наблюдения факта пролёта электрона через щель показала, что "интерференционная" картина при этом не разрушается. Закрывая одну щель прозрачной для ЭМВ диэлектрической заглушкой, я обнаружил, что дифракционная картина под этой щелью исчезает, в то время как дифракционная картина под открытой щелью остаётся такой же, какой была при двух открытых щелях. Этот опыт указывает на то, что электрон интерферирует со своей электромагнитной частью, проходящей через закрытую прозрачным диэлектриком щель.
...
В серии описанных выше экспериментов я опроверг общепринятое с 1930-х годов мнение, что якобы невозможно без разрушения интерференционной картины наблюдать то место, например, щель, через которое проходит электрон. Выполнив исследования с подсветкой щелей разными источниками S света (по схеме, показанной на рис.10), я подтвердил, что сильно возмущающий метод подсветки, действительно, бесперспективен для неразрушающего наблюдения интерференционных картин от электронов. Метод же устройства границ щелей из полупроводниковых датчиков позволил мне наблюдать место пролёта электронов без разрушения их интерференционной картины. Так как для электрона неважно, детектированы или не детектированы токи, индуцированные им в рассеивателе. При этом стало ясно, что картина рассеяния электронов не зависят от материала края щели, будь это проводник, полупроводник или диэлектрик. http://sciencegeek.ru/post/22
К сожалению уважаемый Демьянов не описывает как он ставил свои эксперименты и как он добился регистрации электронов. Может детали в его книгах. Автор плодовит, но в интернете его книг вроде нет...
Однако постановка вопроса сверхинтересна.
